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BA-100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪

BA-100 (三种不同的样品平台可供选择)

BA-100台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪

一一为您提供高精度快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。

BA-100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪 XRF测厚 第1张

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标准固定平台马达驱动/可编程XY平台加宽的可编程XY平台

智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便,在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。

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高分辨率的固态探测器

良好的元素峰位分辨无需二次滤波器。峰位长时间保持稳定。无需频繁地进行再校准。

L线用于Ag, Sn等薄镀层分析

更高的灵敏度和效率针对AgSn等应用能够提供优于K线的分析效果。 

直观的用户界面

提供最大的分辨灵活性,同时减少用户出错机会

基于Net framework框架的Xralizer软件

直观的图标引导用户界面

强大的定性/无标样分析功能

强大的标准片库

用于快速分析的可定制快捷键

灵活的数据显示与导出

强大的报告编辑生成器

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支持统计和自动样品图片捕捉功能的定制报告

以人为本的设计,更简易的维护

紧凑式和模块化设计确保所有主要部件之间合理衔接

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简单易用的设置向导图标导航栏测量结果输出与显示

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符合人体工程学的操作平台设计

简洁的控制面板

占地面积小

轻量化

一根USB线完成连接